7月31日至8月2日，“第二屆國際檢驗檢測技術與裝備博覽會”（以下簡稱“檢博會”）在北京國家會議中心舉辦。本屆檢博會以“高端技術、服務民生”為主題，以“質(zhì)檢、科技、國際”為特色，以“搭建國際平臺，服務檢測市場”為宗旨。檢博會期間，全國質(zhì)檢系統(tǒng)技術中心、質(zhì)檢中心、重點實驗室相關負責人及第三方檢測機構、全國質(zhì)量誠信企業(yè)代表到會參觀洽談，參展參會達上萬人次。
梅特勒-托利多作為參展商展示了最新的超越系列分析天平、快速水分測定儀等天平儀器等，同時，梅特勒-托利多還帶來了針對第三方檢測領域的儀器，如電位滴定儀-T50、卡爾費修水分儀-V20、熔點儀-MP90、Seven ExcellenceTM系列儀表-S400等。
8月1日，梅特勒-托利多天平產(chǎn)品市場部何平于國家會議中心會議區(qū)三樓報告廳進行演講。演講內(nèi)容為“檢驗檢測機構實驗室發(fā)展與技術品牌保障”，獲得了行業(yè)內(nèi)各位專家的認同。
最終，梅特勒-托利多憑借良好的品牌，性能卓越的產(chǎn)品、優(yōu)秀的實驗室解決方案，獲得本屆檢博會最高獎項“第二屆國際檢驗檢測技術和裝備博覽會”金獎。
